2017年6月3日，歐姆龍自動化（中國）有限公司參加了在深圳舉辦的第五屆手機金屬與3D玻璃外殼技術(shù)與應(yīng)用論壇暨展示會。

第五屆手機金屬與3D玻璃外殼技術(shù)與應(yīng)用論壇暨展示會會議現(xiàn)場

展示現(xiàn)場，歐姆龍ZW7000/5000系列光纖同軸位移傳感器重磅登場，成為現(xiàn)場關(guān)注熱點！

歐姆龍自動化（中國）有限公司展示現(xiàn)場
擁有歐姆龍獨有的[白光共焦方式]*1，即使面對各種材料、形狀混合也能穩(wěn)定測量。高精度品質(zhì)檢測與縮短檢查工時同步實現(xiàn)！

光纖同軸位移傳感器ZW系列產(chǎn)品

曾經(jīng)，全金屬一體手機風(fēng)靡一時。金屬殼既可以提供高強度支撐又可以做到很?。?mm左右），而且外觀質(zhì)感好、散熱好、制造工藝多樣化，得到了市場的高度認可，從而快速發(fā)展。但隨著移動通信技術(shù)的發(fā)展，金屬外殼始終存在無線信號屏蔽的問題，隨著無線充電和5G等新型傳輸方式的推廣，手機上將搭載更多種類的天線，提供給單個天線的設(shè)計面積將會更小。金屬機身滲透率開始下滑，3D玻璃因其舒適的手感、完美貼合柔性屏等優(yōu)勢成為絕佳的替代材料。

3Dglass概念圖

然而，3D加工難度高，玻璃材質(zhì)較脆，加工過程中的瑕疵、邊緣等問題不能完全避免，造成良品率不高；而由于曲面的角度大，更是難以做到高精準(zhǔn)的檢測。面對這樣的制造難題，歐姆龍?zhí)岢觥癐ntegrated”*2，致力于為制造業(yè)革新，創(chuàng)造更簡單更靈活的制造現(xiàn)場，實現(xiàn)高速?高精度生產(chǎn)，賦予生產(chǎn)更多智能。
為此，擁有歐姆龍獨有光學(xué)設(shè)計技術(shù)，[白光共焦方式]的ZW7000/5000系列誕生了！即使傳感頭高速移動；工件同時存在粗糙面、曲面、傾斜、狹小區(qū)域等各種狀態(tài)，也能發(fā)揮白光共焦方式的優(yōu)點，實現(xiàn)連續(xù)的移動測量。輕松實現(xiàn)微小部品的間隙、位置以及形狀的高精度檢測。其超小型、輕量化的特點，可輕松安裝到空間狹小的裝置和移動部，有助于加快生產(chǎn)節(jié)拍。

主要優(yōu)勢：
一． 形狀測量
用小光點如實測量。激光位移傳感器在測量段差及間隙時，存在發(fā)生多面反射導(dǎo)致形狀輪廓模糊、邊緣檢測位置波動、位置檢測精度下降等問題。ZW-5000憑借10μm的最小光點，可避免發(fā)生多面反射，形狀輪廓清晰，從而提高位置檢測精度。


二． 傾斜?曲面
相較于以往的激光位移傳感器，即使是光澤面也能進行傾斜、曲面的高精度形狀測量*3。

三．材質(zhì)混在一起
根據(jù)材質(zhì)的不同，以往的激光位移傳感器需要改變傳感頭的種類和安裝方向，每次都要花費調(diào)整時間。白光共焦位移傳感器無需區(qū)分使用傳感頭和安裝方向，可邊移動邊進行各種材質(zhì)的測量。

四．粗糙面*4的平坦度
使用以往的激光位移傳感器時，來自工件的多重反射光會誘發(fā)測量值跳動，因此無法掌握本來希望測量的“平坦度”。另外，傳感頭的朝向和測量線的方向會造成更大的偏差。白光共焦位移傳感器不受多重反射光的影響，可一次性測量近似于實際形狀的高度*5。

五．忠實測量工件形狀的高速采樣。
用激光位移傳感器時，移動測量會導(dǎo)致精度劣化，需要增加平均次數(shù)，因此出現(xiàn)了形狀再現(xiàn)性較差的問題。ZW-7000可實現(xiàn)最短20μs的高速采樣，即使無平均化處理，也可忠實測量形狀。


規(guī)格：
ZW-7000傳感頭

*與出口貿(mào)易管理法規(guī)對應(yīng)控制器(ZW-7000T)連接時，無論傳感頭和設(shè)定條件如何，最小分辨率都為0.25μm。

ZW-5000傳感頭

*與出口貿(mào)易管理法規(guī)對應(yīng)控制器(ZW-5000T)連接時，無論傳感頭和設(shè)定條件如何，最小分辨率都為0.25μm。

ZW7000/5000系列請點擊
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*注:
1.其原理是將白色光按顏色(波長)改變集光位置并進行照射，僅將連結(jié)焦點的波長光作為發(fā)射光進行受光，再根據(jù)其顏色信息測量高度。投光和受光配置在同一個軸上，在測量范圍內(nèi)的任意位置均能通過同一個測量點進行準(zhǔn)確測量。
2.“Integrated”來源于歐姆龍“i-Automation！”理念。
3.可測量理由：“角度特性”機制。從正上方投光，因此反射光的擴散較小。另外，即使受光量變少，只要能部分受光，就能根據(jù)波長(位置)信息穩(wěn)定測量高度。
4.有切削痕跡、測量線等的工件。
5.可測量理由：“粗糙面穩(wěn)定測量”機制。由于來自測量點以外的多重發(fā)射光無法進入針孔，即使移動后對象物體的反射狀態(tài)發(fā)生變化，也能穩(wěn)定、正確地測量希望檢測的點。